Microscope AFM

Nom de l’équipement : microscope AFM

Utilisation : caractérisation de matériaux (métaux, polymères) et des nanostructures (molécules absorbées, nanostructures organiques et inorganiques) à l’échelle nanométrique

Application : caractérisation de la morphologie et des états de surfaces à l’échelle submicronique (résolution nanométrique). Propriétés électriques et mécaniques

Onglet : CaractérisationsMesure des propriétés

Nom et prénom du responsable : Judicaël Jeannoutot


 

Image AFM d’un réseau supramoléculaire obtenu en « spin coating » en résolution submoléculaire

Image AFM d’une monocouche organique déposée sur graphite obtenue par « spin coating » montrant une épaisseur de couche de 1,5 nm

Caractéristiques techniques :

Applications :

Spécificités :

Dimensions maximales de l’échantillon : X-Y : 200 mm, Z : 20 mm  - Dimensions maximales de balayage : X=90µm, Y=90µm, Z=10µm Dérive en X et Y < 300 pm/min

Modes de scan : contact, tapping, PeakForce tapping

Résolution : ≈ 2 nm en X et Y, ≈ 0.1 nm en Z

Imagerie à pression atmosphérique et en milieu liquide

Nom de l’outil : microscope à force atomique (AFM)

Fabricant : Bruker

Modèle : Dimension ICON

Salle : Salle microscopie

caractérisation de la morphologie et des états de surfaces à l’échelle submicronique