Liste de matériel servant à la caractérisations de matériaux
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Enceinte UHV avec microscope STM cet équipement sert à l'élaboration d’auto-assemblages supramoléculaires sur différentes surfaces et caractérisation par microscopie STM sous ultra-haut vide Application : Images en résolution atomique et/ou moléculaire de surfaces conductrices Onglet : Caractérisations – Élaboration |
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cet outil sert à la caractérisation de matériaux (métaux, polymères) et des nanostructures (molécules absorbées, nanostructures organiques et inorganiques) à l’échelle nanométrique Application : caractérisation de la morphologie et des états de surfaces à l’échelle submicronique (résolution nanométrique). Propriétés électriques et mécaniques Onglet : Caractérisations – Mesure des propriétés |
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Spectromètre de décharge luminescente La spectromètre de décharge luminescente est une méthode d’analyse élémentaire fondée sur la spectroscopie d’émission optique. Cette technique est utilisée pour l’analyse qualitative ou quantitative de matériaux métalliques et d’alliages après étalonnage avec des matériaux certifiés de référence (MRC) avec une précision d’environ 5% Application : l’analyse élémentaire en volume et en surface des échantillons avec la possibilité d’obtenir les profils de répartition, en profondeur, d’un grand nombre d’élément Onglet : Caractérisations |
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cet équipement permet l'imagerie en électron secondaire et rétrodiffusé, mesure de composition chimique |
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sert à déterminer la structure cristallographique et la microstructure de revêtements ou de poudre. Application : Cristallographie Onglet : Caractérisations |
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cet équipement sert à l'acquisition de microtopographies de profils ou de surfaces par balayage avec reconstruction 2 et 3D. |
| Microscope électronique à balayage avec canon à émission de champ couplé à un spectromètre à dispersion en énergie Imagerie en électron secondaire et rétrodiffusé, mesure de composition chimique Application : Détermination de la morphologie, étude de composition chimique (profil, cartographie) Onglet : Caractérisations |
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Déterminer la structure cristallographique et la microstructure de revêtements ou de poudres Application : Cristallographie Onglet : Caractérisations |
| Profilomètre AltiSurf 500 Acquisition de microtopographies de profils ou de surfaces par balayage avec reconstruction 2 et 3D. Application : Technique non destructive / Mesure avec ou sans contact / Sur tout type d’échantillons solide Hmax : 9 cm. Onglet : Caractérisations |