Microscope électronique à balayage

Nom de l’équipement : Microscope électronique à balayage avec canon à émission de champ couplé à un spectromètre à dispersion en énergie
Utilisation : Imagerie en électron secondaire et rétrodiffusé, mesure de composition chimique
Application :  Détermination de la morphologie, étude de composition chimique (profil, cartographie)
Onglet : Caractérisations
Nom et prénom du responsable : Arab Pour Yazdi Mohammad

Caractéristiques techniques :

Applications :

Spécificité :                                                                  

Grandissement (×25 à ×1000 000)
Résolution : 0,8 nm (à 15 kV) - 3 nm (à 100 V)
Taille maximale des échantillons : 20 cm
Poids maximal des échantillons : 5 Kg
Tension d’accélération : 0,01 kV à 30 kV

Nom de l’outil : Microscope électronique à balayage ; spectromètre à dispersion en énergie
Fabricant : JEOL ; BRUKER
Modèle : JSM-7800F ; QuantaxBruker avec un détecteur XFLASH6|30
Salle : LM018

 Sciences des matériaux :
L’étude des surfaces : Morphologie de revêtement, aspect de traitement ou d’usinage de la surface de l’échantillon
Recherche des causes de défaillance des pièces (ruptures) et dégradation mécanique de surface : Usure, frottement, corrosion